MINI芯片高溫高濕試驗可以用于芯片的溫濕度試驗，國內外標準也有關于芯片的溫濕度存儲試驗。不管是溫濕度存儲試驗還是高溫高濕試驗，都需要高溫高濕試驗機的配合使用來完成整改試驗過程。

那么，芯片高溫高濕試驗機是如何配合完成整個試驗的？下面是MINI芯片高溫高濕試驗機使用教程。

1. 準備工作：
確保試驗機處于良好的工作狀態，檢查設備的電源和連接是否正常。
清潔試驗室內部，確保無雜質和污染物影響測試結果。

2. 樣品準備：
準備待測試的樣品，根據測試要求和標準選擇合適的樣品。并放置在高溫高濕試驗機內

3. 設定測試參數：
使用試驗機的控制面板或操作界面，設定所需的溫度和濕度參數。確保設置符合測試要求。
根據《GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分：溫濕度貯存》標準的要求，需要設置這些參數：
a.溫度設置40℃，濕度設置90%，持續時間設置8000h。
b.溫度設置60℃，濕度設置90%，持續時間設置4000h。
c.溫度設置85℃，濕度設置85%，持續時間設置1000h。

4. 啟動測試：
啟動試驗機，開始溫度和濕度的控制和變化。
在測試過程中，實時監測試驗機內部的溫度和濕度變化。可以通過試驗機的控制面板或數據記錄系統進行監控。

5. 結束測試：
根據測試數據，進行數據分析和結果評估。比較測試結果與測試標準或要求進行對比。