適用于LED、LED芯片、燈珠、燈絲的高溫高亮老化測試。內部結構經過特殊設計，可以承受大功率發熱負載，最大發熱量可達2500W （更大可定制），并可保證箱內基板溫度正負誤差。此款設備搭配LED電源燒測系統一起使用。

技術參數：

測試數量：

整套老化系統由1臺精密高溫烘箱搭配兩臺程控多通道老化電源，每臺電源提供40個老化端口，整套系統共提供80PCB端口。

技術特點:

①數據庫加載導入，自動完成試驗過程，方便操作使用;

②被試器件DUT老化電源采用分區統一供給，程控方式;

③被試器件DUT每個輸出端負載有電阻負載和程控電子負載類型可選;

④被試器件DUT輸出可通過計算機檢測、記錄輸入輸出電壓、輸出電流;

⑤可根據用戶的需求，制定各種老化板及測試程序。

產品特點：

1.豐富的通信接口，包括2個RS232接口、2個RS485接口、2個CAN接口。

2.所有板卡可以熱插拔，有效防止接插件接觸不良或單板故障造成的死機重啟現象。

3.溫度控制為PID微電腦，可自動演算，PV/SV同時顯示，彩色LCD顯示觸摸屏，中文人機對話界面。

4.強制水平送風循環，風源由循環馬達運轉帶動風輪經電熱器，將熱風由風道送至烤箱內部，且將使用后熱風吸入風道成為風源再度循環加熱，由此減小能量損耗并保證箱內的溫度均勻性。

如有LED高溫老化系統的選型疑問，可以咨詢環儀儀器相關技術人員。